Arşiv ve Dokümantasyon Merkezi
Dijital Arşivi

Defect prediction in embedded software systems: cascading naive bayes algorithm with cross- vs within-company data

Bu öğenin dosyaları

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Dijital Arşivde Ara


Göz at

Hesabım